Выбор метрологического оборудования на основе статистического прогнозирования характеристик средств измерений в системе контроля качества технологического процесса (StatPRO)

Название	Выбор метрологического оборудования на основе статистического прогнозирования характеристик средств измерений в системе контроля качества технологического процесса (StatPRO)
Разработчик (Авторы)	Локтев Дмитрий Абрамович, Локтев Александр Абрамович, Капитанов Алексей Вячеславович, Егоров Сергей Борисович, Митрофанов Владимир Георгиевич, Тясто Сергей Александрович
Вид объекта патентного права	Свидетельство на программу для ЭВМ
Регистрационный номер	2016612283
Дата регистрации	20.02.2016
Правообладатель	федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»
Медаль имени А.Нобеля

Описание изобретения

Программа предназначена для статистического выбора средств измерения параметров технологического процесса, позволяющего повысить эффективность системы управления современного производства, в котором на основе имеющихся значений полей допусков измеряемых параметров качества производится выбор пригодных средств измерения, множество которых последовательно анализируется путем выполнения 5 (пяти) последовательных итераций: сравнения предельно допустимой погрешности средства измерения и поля допуска измеряемого параметра, сравнения разрешения средства измерения и поля допуска измеряемого параметра, вычисления и анализа разрешения измерительной системы, а также применения для выбора средства измерения трех методов проверки пригодности средства измерения на основе использования методик стандартов ISO 22514-7, ГОСТ Р 51814.5-2005.

Тип реализующей ЭВМ: IBM PC-совмест. ПК

Язык программирования: Delphi

Вид и версия операционной системы: Windows

Объем программы для ЭВМ: 3,16 Мб

Изобретение "Выбор метрологического оборудования на основе статистического прогнозирования характеристик средств измерений в системе контроля качества технологического процесса (StatPRO)" (Локтев Дмитрий Абрамович, Локтев Александр Абрамович, Капитанов Алексей Вячеславович, Егоров Сергей Борисович, Митрофанов Владимир Георгиевич, Тясто Сергей Александрович) отмечено юбилейной наградой (25 лет Российской Академии Естествознания)
Медаль Альфреда Нобеля

Оформление наградных документов и заказ каталога